S nejnovějšími poznatky z oblasti měřicí, kontrolní a zkušební techniky měli minulý týden příležitost se seznámit ti, kteří navštívili 22. ročník mezinárodní konference Měřicí technika pro kontrolu jakosti. Součástí konference byla i výstava měřicí techniky, během níž bylo možné konzultovat metrologické problémy přímo s jejími výrobci a vyměnit si zkušenosti s dalšími jejími uživateli. Program konference organizátoři sestavili tak, aby umožnil účastníkům získat v krátké době co nejvíce potřebných informací o nových trendech v metrologii a její zásadní úloze v rámci moderních technologií. V úvodu konference vystoupil předseda Úřadu pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví (ÚNMZ) Milan Holeček s přednáškou nazvanou „Evropská unie – nová legislativa v oblasti technické harmonizace,“ v níž informoval o Novém legislativním rámci EU a souvisejícím procesu slaďování stávajících předpisů, který se děje tzv. technikou přepracování (recast). ÚNMZ usiluje o to, aby se do tohoto procesu zapojilo co nejvíce českých expertů. Zbyněk Veselák z odboru metrologie ÚNMZ seznámil účastníky konference s nedávnými a očekávanými legislativními změnami v oblasti měřicí techniky. Jednou z nejdůležitějších loňských změn bylo vypracování návrhu novely zákona o metrologii a souvisejících právních předpisů, na němž se podílel i Český metrologický ústav. Podle Zbyňka Veseláka však není jisté, zda návrh bude ve stávající podobě předložen ke schválení parlamentu. Zbyněk Veselák dále shrnul současnou situaci v oblasti státních etalonů, kde v nedávné době byly schváleny etalon momentu síly EZMS N.m a etalon ss napětí na principu JVS. Výhledově se předpokládá schválení etalonů v oboru nanotechnologií, vysokého vakua, vlhkosti energetických plynů a elektrolytické konduktivity. V dalším příspěvku zástupce společnosti Zeiss přiblížil současnou tendenci přesunu měřicích středisek přímo do výroby. Zeiss pro tento způsob měření nabízí speciální řadu měřidel. Firma Mahr následně představila novou řadu měřicího systému Mar- Form MMQ 400-2, který umožňuje plně automatické měření úchylek tvaru polohy, jakož i měření drsnosti a kontury povrchu. K jejím horkým novinkám patří rovněž měřicí mikroskop MarVision MM320, který jako vyhodnocovací jednotku používá PC s dotykovou obrazovkou a měřicí software M3 společnosti MetLogix. Miroslav Skopal z VÚT v Brně se ve své přednášce zabýval kalibrací a zkouškou souřadnicových měřicích systémů (CMM). Podrobně rozebral rozdíl mezi precizností, přesností a správností měření a vysvětlil pojem a postup kalibrace, který se nutně musí dít ve dvou krocích. Nejprve zjistíme údaje o chybách indikací a následně v rámci korekce musíme zajistit jejich zapsání do příslušného hardwaru. Společnost Prima Bilavčík prezentovala nabídku svých nových fotogrammetrických měřicích přístrojů Aicon, laboratorních konturografů Optacom, konfokálních 3D mikroskopů Nanofocus či drsnoměrů Diavite. Zástupce firmy Imeco následně poskytl podrobné informace o zařízeních pro měření textury povrchu, tvaru nebo délek od výrobců Taylor Hobson, Altimet či Microrep. Mezi dalšími firmami, které se na konferenci či na výstavě představily, byly Mitutoyo, Hexagon Metrology, Amest, Hommel CS, Workswell, CCE Praha nebo Kobold Messring. Konferenci zakončil workshop věnovaný měření velkých a malých rozměrů a výpočtu nejistoty měření v Excelu.
