Vedoucí skupiny rentgenových zdrojů na ELI Beamlines Jaroslav Nejdl se svým týmem vynalezl unikátní koncepci, jak pomocí nového přístroje, který v sobě kombinuje funkci profilometru a spektrometru, charakterizovat XUV svazek.
„Náš přístup spočívá v novém optickém uspořádání XUV diagnostiky, které umožňuje měření intenzitního profilu svazku a jeho spektra s použitím jediného detektoru, což značně zjednoduší měřící aparaturu. Ta totiž dříve obsahovala spektrometr a profilometr, každý se svým detektorem, kterým je většinou rentgenová kamera za desítky tisíc eur,“ říká Jaroslav Nejdl.
Vynález vznikl pro řešení interní potřeby vědeckého týmu a po jeho osvědčení v praxi se myšlenku podařilo patentovat. Trh pro podobná specializovaná zařízení sice není velký, ale poptávka po takových inovacích neustále roste. Tento fakt dokládá i to, že po oslovení výrobců podobných zařízení se ozvala německá firma, která měla zájem licenci k patentu koupit. Po dohodnutí podmínek byla na začátku roku 2019 podepsána smlouva s firmou Dr. Hoerlein & Partner GbR.
Smlouva je pro ELI Beamlines důležitá nejen jako zdroj financí (díky licenčním poplatkům), ale také dokazuje, že ELI Beamlines má potenciál přinést aplikované sféře zajímavé a přínosné vynálezy. Průmyslovému partnerovi smlouva umožňuje výrazně zlepšit nabízené přístroje.